“测量”《精密测量技术在3C电子、半导体行业的应用》专题讲座即将开启全程干货不容错过！

时间：2022-08-14 13:49:06来源：化工仪器网

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随着科技的发展和进步，微米量级的器件尺寸对测试技术提出新的挑战，亟需更高精密度、更高灵敏度的测试技术。此外，芯片制程正在从二维走向三维，精密的测量三维芯片的关键尺寸，是助力半导体行业发展的重要技术之一。三维测量，即以接触或非接触等方式对被测物进行全方位测量，确定被测物的三维坐标测量数据。三维测量的测量功能应包括尺寸精度、定位精度、几何精度及轮廓精度等。

为推动精密测量技术应用，提高行业相关人员对三维测量仪器使用水平，化工仪器网联合基恩士于2022年6月15日举办《精密测量技术在3C电子、半导体行业的应用》网络课堂，并特别邀请了国家重点研发计划项目首席杨树明以及基恩士3D测量显微系统3D轮廓测量技术工程师王靖元两位老师担任课程讲师。

讲师介绍

杨树明西安交通大学教授

国家重点研发计划项目首席，陕西省重点科技创新团队带头人，西安交通大学重大科技创新团队带头人；国际纳米制造学会(ISNM)会士、亚洲精密工程与纳米技术学会(ASPEN)理事、中国计量测试学会常务理事等。承担国家及省部级重大重点项目30 余项，发表学术论文 150 多篇，授权/公开国际国内发明专利 80 多项，获教育部科技进步一等奖、陕西省科学技术一等奖、中国机械工业科学技术一等奖、中国计量测试学会科技进步一等奖等 7 项；研究成果入选中国科协首届“科创中国”先导技术榜单。在国际学术会议应邀做大会报告和特邀报告 30 余次，担任 JMS、IJPEM-GT、IJRAT、NMME、MST、PE、IJAMT、Photonics 等国际权威期刊编委和客座编委等。

王靖元基恩士3D测量显微系统 3D轮廓测量技术工程师

现为基恩士3D测量显微系统部门技术工程师，负责3D轮廓仪、形状测量激光显微系统的技术支持工作。在轮廓测量、平面度分析等方面有丰富经验。

本期课程，两位讲师将分别以《半导体芯片检测技术瓶颈及发展趋势》和《非接触式轮廓仪在3C电子行业的应用》为题，进行在线讲座。课程内容围绕半导体发展要点和精密测量在3C电子行业中的应用。全程干货不容错过！赶快报名吧！点此进入报名页面

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